HCX09A薄膜熱物性測試儀
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詳情介紹:
HCX09A薄膜熱物性測試儀
該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數。薄膜物理指出當物體很薄時(shí),同樣材料薄膜狀態(tài)的物性與容積狀態(tài)的物性不一定相同,因此對薄膜物性的測量必須在薄膜狀態(tài)下進(jìn)行。根據物體表面溫度按余弦(或正弦)規律變化時(shí)的瞬態(tài)實(shí)驗模型。采用溫度波法來(lái)測試薄膜材料的熱物性參數,由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態(tài)下,當溫度振蕩頻率達到一定值后,利用樣品上、下表面溫度的相位差計算導溫系數或導熱系數。儀器專(zhuān)用于研究薄膜材料熱物性特性。
主要技術(shù)參數:
1.導熱系數范圍:0.05~20w/m·k
2.儀器實(shí)現數字化測溫,精度優(yōu)于0.2級。
3.測量結果,準確度 ±3%
4.計量加熱功率可調節±1%。
5.試樣尺寸要求:圓柱體¢15--30*5--30mm .
6.溫度和保護氣氛按用戶(hù)要求定制。7.配接計算機實(shí)現全自動(dòng)測試分析。